產品介紹：

FLH3000膜厚測試儀是利用光譜反射技術實現薄膜厚度測量的高精度儀器，其測量厚度范圍從nm-um，可實現如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導體膜、有機薄膜、導電透明薄膜等膜厚精確測量，被廣泛應用于半導體、微電子、生物醫學等領域。

推薦應用領域：

光伏膜厚分析；半導體薄膜（光刻膠、工藝薄膜、介電材料）；液晶顯示（OLED、玻璃厚度、ITO）；光學鍍膜（硬涂層厚度、減反涂層）；高分子薄膜（PI、PC）；金屬材料膜厚

產品特點：

高精度；非接觸式測量；廣泛的材料兼容性；快速測量；操作簡便；高適應性

技術規格：